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深圳环宇科学仪器有限公司 
| 联系人：陈一帆 先生 (总监) |
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| X射线测厚仪 |
TX220型X射线测厚仪快速、准确、无损的分析多层镀层、合金镀层。该产品经济适用，功能较强大，是工业电镀层X射线测厚仪的首选产品.
应用范围
镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于真空镀、离子镀、电镀的X射线测厚仪。
钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析
性能指标
可测镀层： *多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
精度： *高可达0.01um
厚度相对误差： 单层5%，多层10%
厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
*小测量直径： 2mm
分析时间： 20～100S
技术参数
探测器： 正比计数器
X光管： 钨（W）靶，*大电压50kV，*大电流1mA
高压电源： 精密X射线专用电源，*高输出电压50kV
滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
准直器： 直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
对焦系统： 旋钮视觉对焦
X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制）
输入电压： AC 220V/50HZ
功耗： 260W
样品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量： 40Kg |
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